客戶案例
發布時間：2023-03-11
瀏覽次數：38
在實驗室和晶圓測試環境中測試 Si、SiC 和 GaN MOSFET，確保安全、精準和快速。了解在設計中采用 SiC 和 GaN 導致的測試挑戰以及如何解決它們的更多信息。了解如何最大程度降低最終產品的功耗和最大程度延長電池壽命。縮短設計的上市時間。
![5ZQUWJKQSZ~[(]DCG}P37$G.png](https://img01.71360.com/file/read/www2/M00/02/35/rBwBEmQMHQWAFrHuAAM1kCeiPIk607.png "5ZQUWJKQSZ~[(]DCG}P37$G.png")
